NANOscientific
Symposium
Korea 2025

25 August, 2025

NANOscientific Symposium Korea 2025
NANOscientific Symposium Korea [NSS Korea]는 국내 나노기술 및 원자현미경 관련 전문가들이 모여 다양한 응용기술의 최신 동향을 확인하고 새로운 연구 결과들을 공유하는 원자현미경 전문 심포지엄입니다.
특별히 올해는 Park Systems Korea User Meeting [파크시스템스 국내 유저 미팅]과 동시 개최하여 더욱 풍성한 교류의 장이 될 것으로 기대됩니다. 파크시스템스 국내 유저 미팅은 자사의 최신 제품을 소개하고, 유저 분들의 연구 결과를 공유하는 소통의 자리로, 이번 행사는 국내 원자현미경 관련 여러 전문가들과 유저들을 위한 커뮤니티의 장이 될 것입니다.
Program & Speaker
10:00 - 10:10

개회 및 환영사

이윤기 본부장
10:10 - 10:50

기조강연 Hyperscale Era를 위한 nano Manufacturing에서 nano PDM(Process Diagnostics Method)의 중요성과 역할

전충삼 대표
기조강연 Hyperscale Era를 위한 nano Manufacturing에서 nano PDM(Process Diagnostics Method)의 중요성과 역할
10:50 - 11:20

초청발표 Nanoscale Study of Energy-related Materials Using Glovebox-integrated AFM Systems

김성헌 교수
초청발표 Nanoscale Study of Energy-related Materials Using Glovebox-integrated AFM Systems
11:20 - 11:50

초청발표 Atomic-scale thermopower in 2D topological and correlated materials

양희준 교수
초청발표 Atomic-scale thermopower in 2D topological and correlated materials
11:50 - 13:00

단체사진 및 점심

13:00 - 13:30

초청발표 Metrology Innovations for the Future of 3D Devices: Challenges and Responses

김은파 박사
초청발표 Metrology Innovations for the Future of 3D Devices: Challenges and Responses
13:30 - 14:00

초청발표 Wafer Bonding Process 와 수율 향상을 위한 계측

김해리 박사
초청발표 Wafer Bonding Process 와 수율 향상을 위한 계측
14:00 - 14:20

휴식

14:20 - 14:40

파크시스템스 발표 Updates on Industrial Products and Applications

성승연 팀장
14:40 - 15:00

AFM 유저 발표 Interferometric s-SNOM development

우휘제 박사
AFM 유저 발표 Interferometric s-SNOM development
15:00 - 15:20

AFM 유저 발표 Realization of van der Waals SPM device

이진형 연구원
AFM 유저 발표 Realization of van der Waals SPM device
15:20 - 15:40

휴식

15:40 - 16:00

AFM 유저 발표 Case-Based Multifunctional AFM for Nanoscale Materials: Correlative Topography, KPFM Surface Potential, and LFM Friction Mapping

안현수 연구원
AFM 유저 발표 Case-Based Multifunctional AFM for Nanoscale Materials: Correlative Topography, KPFM Surface Potential, and LFM Friction Mapping
16:00 - 16:20

AFM 유저 발표 Investigation of Electrical Properties of Two-Dimensional Materials via various AFM Measurement Techniques – Toward the Next Step

지상민 연구원
AFM 유저 발표 Investigation of Electrical Properties of Two-Dimensional Materials via various AFM Measurement Techniques – Toward the Next Step
16:20 - 16:40

파크시스템스 발표 Updates on Research Products and Applications

김철수 팀장
16:40 - 17:00

폐회 및 경품 추첨식

17:00 - 17:40

원자현미경 커뮤니케이션 [Application / Service / Sales 및 기타] 세션을 통한 소통의 시간

17:40 - 20:00

만찬(이동 및 식사)